Spindel- und Dynamikanalysesysteme

mit Nanometerauflösung und bis Drehzahlen von 100.000 Upm

Insbesondere bei der Fertigung von optischen Komponenten ist die Werkzeug- und Werkstückspindel zur Generierung von Oberflächen mit Ra-Werten von wenigen Nanometern entscheidend. Die Spindelfehler hierfür müssen sich demnach ebenfalls in diesen Größenverhältnissen wiederspiegeln, was generell nur mit aerostatisch gelagerten Systemen möglich ist.

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Die Messung des statischen Werkzeugrundlaufs ist demnach nicht nur nicht ausreichend, eine Messung von hochdynamischen Wellenfehlbewegungen (Error-Motion) und Resonanzkarten zur Identifikation von Spindel- und Systemeigenfrequenzen ergibt zur Qualifizierung unserer Spindelprodukte eine Aufgabenstellung, mit welcher sich Levicron seit jeher intensiv beschäftigt hat. Da Systeme zur Qualifizierung der Spindeleigenschaften bis Drehzahlen von 100.000 Upm mit Nanometerauflösungen kommerziell nicht verfügbar sind, wurden diese hausintern entwickelt und kundenseitig verifiziert. Hinterlegt mit Spindel- und Maschinendatenbanken hat Levicron diese Systeme hard- und softwareseitig zusammengefaßt und ist nun in der Lage, diese zur generellen Analyse der Spindel- und Maschinendynamikanalyse zur Verfügung zu stellen.

ShakesBear “Hamlet”

  • Messung der Wellenfehlbewegung radial/axial mit Nanometerauflösung
  • Automatische Trennung von Artefaktform- und Spindelsynchronfehler
  • Drehzahlen bis 100.000 Upm
  • Digitales Schleppzeigerinstrument zur Sensor- und Artefaktausrichtung
  • Automatische Berichterstattung
  • Rohdatenspeicherung
  • Spindel-/Maschinendatenbank

ShakesBear “Othello”

  • Dynamischer Werkzeugrundlauf und Schwingschnellen über Drehzahl
  • Spindel- und Systemresonanzkarten
  • 2-Kanal FFT-Analyse mit Peak-Hold (Impulsantwortspektrum)
  • Wellendilatation, Drehzahl und Temperatur über Zeit
  • Digitales Schleppzeigerinstrument zur Sensor- und Werkzeugausrichtung
  • Automatische Berichterstattung
  • Spindel-/Maschinendatenbank